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無損檢測之常規涂層測厚儀的原理

發布時間：2013-11-19

無損檢查原理的傳統涂層測厚儀對材料表面保護和裝飾涂層的形成,如涂料、涂料、涂料、粘層、化學膜等,相關國家和國際標準稱為包層(涂料)。
涂層厚度量測已成為加工工業、表面工程的一個重要組成部分,是至關重要的質量檢查手段,產品達到上等標準。使產品國際化,我國出口商品和外國項目,有一個明確的要求涂膜厚度。
涂層厚度量測方案主要包括:楔形掏槽法、光斷面法、電解方案,厚度差量測法和稱重法、x射線熒光、β反向散射方案,電容法,磁法和渦流量測方案等。這些方案前五名的是損傷檢查、量測手段繁瑣,速度慢,更適合抽樣檢驗。X射線和β射線法是無損量測沒有接觸,但復雜的,昂貴的,小的量測范圍。由于放射性源,用戶必須遵守輻射防護規定。X射線法可以量測極薄的涂層,雙電鍍、合金電鍍。β射線法適用于涂膜和襯底原子序數大于3的量測。的絕緣電容方案只在薄薄的導電涂層厚度時使用。
隨著科技的日益進步,特別是在引入計算機技術在近年來,隨著磁法和電渦流測厚儀的方案對小、智能化、多功能、高精密,一步一實用的方向。量測分辨率已達0.1微米,精度可以達到1%有明顯改善。它的適用范圍廣,范圍廣泛,操作簡單,價格低廉,是應用*廣泛的工業和科學研究厚度儀器。
非破壞性方案既不破壞包層或破壞基材、快速檢查,可以使大量的測試工作在經濟上。

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